Lokalizacja uszkodzeń w systemach mikroprocesowych

Cena 15,00 zł
Dostępny
Dodaj do koszyka

autor: James W.Coffron

wydawca: WNT

isbn/issn: 83-204-0711-7

rok: 1985

liczba stron: 223

waga: 0,30 kg

stan: używana

ocena zużycia w skali 1:6: 5-/4 /stosownie do wieku/

okladka: miękka

płyta: nie

Literatura naukowa Informatyka, elektrotechnika Literatura piękna, lektury

Polecamy również

Dodaj komentarz przez Facebook
 

X